單極質譜計檢測
單極質譜計檢測摘要：單極質譜計檢測是一種基于離子質量-電荷比分析的精密技術,，廣泛應用于材料成分鑒定與痕量物質分析。其核心檢測要點包括質量分辨率,、靈敏度,、真空系統(tǒng)穩(wěn)定性及校準準確性。本文重點闡述檢測項目參數(shù),、適用材料范圍,、標準化方法及關鍵設備配置,，為工業(yè)研發(fā)與質量控制提供技術參考,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。
注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。
檢測項目
質量范圍：1-1000 amu（原子質量單位），誤差≤±0.05%
分辨率：全質量范圍內≥0.1 amu（半峰寬法）
靈敏度：低濃度樣品檢出限≤1 ppb（信噪比≥3:1）
真空度：分析室壓力≤5×10?? Torr
穩(wěn)定性：連續(xù)8小時質量軸漂移＜0.01 amu
檢測范圍
半導體材料：硅晶圓摻雜濃度,、金屬雜質分析
高分子聚合物：單體殘留量,、添加劑成分檢測
生物醫(yī)藥樣品：蛋白質分子量測定、代謝物鑒定
環(huán)境污染物：VOCs（揮發(fā)性有機物）定性定量分析
金屬及合金材料：痕量元素分布表征
檢測方法
ASTM E1504：質譜系統(tǒng)動態(tài)質量掃描校準規(guī)程
ISO 18118：表面化學分析-質譜法元素靈敏度因子測定
GB/T 32293：四極桿質譜儀性能測試方法
ISO 21358：真空系統(tǒng)漏率檢測的質譜示蹤法
GB/T 38216：質譜聯(lián)用技術通則
檢測設備
Thermo Fisher Scientific Exactive Plus EMR：高分辨率（240,000 FWHM）軌道阱質譜,，配備電噴霧離子源
Agilent 7200 GC/Q-TOF：氣相色譜-四極桿飛行時間質譜聯(lián)用系統(tǒng),，質量精度＜1 ppm
Shimadzu LCMS-8060：超高效液相色譜三重四極桿質譜，支持MRM多反應監(jiān)測模式
Pfeiffer Vacuum HiPace 80：渦輪分子泵組,，極限真空度達5×10?? mbar
Hiden Analytical HPR-40：殘余氣體分析儀,，質量數(shù)范圍1-300 amu，檢測限0.1 ppm
北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版),。
檢測周期：7~15工作日,，可加急。
資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。
中析儀器 資質
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